Omgekeerde trinoculaire metallografische microscoop voor metallurgische laboratoria GL-FXD-30MW | Hardness tester & Test Block Manufacturer Overslaan en naar de inhoud gaan

Omgekeerde trinoculaire metallografische microscoop voor metallurgische laboratoria GL-FXD-30MW

Trinocular Metallographic Microscope
Metallographic microscope
Trinocular Metallographic Microscope
Trinocular Metallographic Microscope
fxd-30mw

De GL-FXD-30MW computergestuurde metallografische microscoop is een trinoculaire omgekeerde metallografische microscoop die superieure beeldkwaliteit, een stabiele en betrouwbare mechanische structuur en nauwkeurige focussering biedt. Dit geavanceerde metallografische instrument is ontworpen voor analyses met een hoge resolutie en biedt verbeterde ergonomie voor optimaal gebruikerscomfort. De professionele trinoculaire metallurgische microscoop voor metaalonderzoek is eenvoudig te bedienen en wordt geleverd met alle accessoires, waaronder digitale beeldvormingssystemen voor documentatie en analyse. Hij wordt veel gebruikt in metallografische analyses voor onderwijs en onderzoek, materiaaltesten en microstructuurobservaties in fabriekslaboratoria.

Observatiebuis

Drie scharnierende objecten, zichtbaarheid instelbaar, 45° kantelbaar, fotografische beeldvorming, vastleggen en opslaan van observatiebeelden, configureren van computer en professionele goudfase-analysesoftware om beeldanalyse uit te voeren.

Focusmechanisme

Coaxiaal scherpstelmechanisme voor grove en fijne afstelling bij lage handpositie, met elastische afstelling en willekeurige begrenzing voor snelle scherpstelling, grove afstellingsslag per omwenteling: 38 mm/1,5 inch, fijnafstellingsnauwkeurigheid: 0,002 mm/0,000078 inch.

Fase

Een coaxiale, met de hand te verstellen, bewegende liniaal en een verlengplaat voor het platform kunnen worden toegevoegd om de toepassingsruimte uit te breiden en om te voldoen aan de behoeften van klanten met verschillende vereisten.

Technical parameter

Configure

Model

Onderdelen

specificatie

GL-FXD-30MW

Optisch systeem

Infinity Chromatische Aberratie Correctie Optisch Systeem

·

Observatiebuis

Scharnierende trinoculaire kop, 45° kanteling, bereik van de interpupillaire afstandsaanpassing: 54-75 mm/2,1-3 inch, unilaterale dioptrie-aanpassing ±5 dioptrie Dioptrieverhouding: binoculair 100%, binoculair:trinoculair=80%:20%

·

Oculair

Oculairen met een groot gezichtspunt en ultragroothoeklens PL10X/22 mm (0,9 inch)

·

Oculairen met een hoog oogpunt en ultragroothoekveldplan PL10X/22 mm (0,9 inch), met kruisverdelingsliniaal

O

Oculairen met een hoog gezichtspunt en ultragroothoekplan PL10X/22 mm (0,9 inch), verstelbaar zicht

O

Oculairen met een hoog oogpunt en ultragroothoekveldplan PL15X/16 mm (0,6 inch)

O

objectieflens

(oneindig langeafstandsplan achromatisch)

LMPL5X /0,15 WD10,8 mm (0,42 inch)

·

LMPL10X/0,3 WD10mm (0,4 inch)

·

LMPL20X/0,45 WD4mm (0,15 inch)

·

LMPL50X/0,55 WD7,8 mm (0,31 inch)

·

LMPL100X/0,80 WD 2,1 mm (0,08 inch)

O

Omvormer

Interne positionering vijf-gats converter

·

Spiegellichaam

Coaxiale grof- en fijnafstelling, grove afstellingsslag per omwenteling: 38 mm/1,5 inch, fijne afstellingsslag per omwenteling: 0,2 mm/ 0,0078 inch , scherpstelnauwkeurigheid: 0,002 mm, met elastische afstellingsinrichting

·

Vast platform: afmetingen 160 x 250 mm/6,3 x 9,8 inch

·

Werktafel

Metalen podiumplaat (middelste gat Φ12mm/0,5in)

·

Metalen podiumplaat (middelste gat Φ25mm/1in)

O

Mechanische bewegende liniaal, slag 120 (X) * 78 (Y) mm / ход4,7 (X) * 3,1 (Y) inch

·

Fase-uitbreiding

·

Reflecterend verlichtingssysteem

Reflecterende Kola-verlichting, met variabel diafragma en centraal verstelbaar gezichtsvelddiafragma, adaptieve 100V~240V brede spanning, 12V50W geïmporteerde halogeenlamp, centraal verstelbaar, continu instelbare helderheid

·

Polariserende accessoires

De analysator kan 360 graden worden gedraaid en zowel de polarisator als de analysator kunnen uit het lichtpad worden gehaald

·

Kleurfilter

Groen filter, blauw filter (Φ32mm/1,26in)

·

Metallografisch analysesysteem

metallografische analysesoftware, 12MP camera-apparaat, 0,5X adapterspiegelinterface, micrometer.

·

Computer

HP zakelijke computer

O

Let op: “·”als standaard;“O”voor optie

Main Accessories

metallografische analysesoftware,

12MP camera-apparaat,

0,5X adapterspiegelinterface,

objectmicrometer